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NFC 13.56MHz / RAIN RFID 900MHz 雙頻電子標籤量產測試需求


EM Microelectronics於2015年推出了具有高頻 (HF/NFC)和超高頻(UHF)通信接口的RFID IC。在本文中,我將和各位探討RFID雙頻電子標籤 Dual Frequency Label 品質相關問題以及如何驗證每個生產的標籤符合其規格?


是否測試任一頻段的性能就足以保證雙頻標籤的性能?

先讓我們聊一下雙頻標籤結構以便了解影響標籤性能的因素,雙頻 IC有兩組接口介面,這允許通過例如使用智慧手機的HF / NFC功能或通過例如零售店內庫存系統的UHF讀寫器方便讀取雙頻 IC內資料,因此雙頻 IC需接上兩個單獨的天線,一個用於HF近場耦合,另一個用於UHF遠場通信,這兩個天線分別連接到單一個雙頻IC上。下面我們可以看到來自Lab ID RFID雙頻標籤天線的設計例子:


從上圖可知,在製程上雙頻IC和兩個天線是同時被連接在一起,如果僅測試一個頻段的性能,是否可保證該雙頻標籤的性能呢? 經進一步分析後,這答案是: 雙頻標籤上NFC和UHF射頻性能是必需單獨測試的。

我們使用Tagsurance UHFTagsurance HF進行了一些測試,以便從一捲雙頻標籤樣品中挑出不太靈敏感(性能較差)的標籤。測試雙頻標籤的設置是由兩個獨立的Snoop Pro耦合元件組成,一個用於HF測試,一個用於UHF測試。


我們可以使用同一個使用者界面來控制兩台測試設備Tagsurance UHFTagsurance HF,並收集測試結果和每個雙頻標籤的讀取數據。基於這些訊息,我們能夠識別出在UHF頻段或HF頻段中性能較差的標籤。在許多不良的樣品中,同一標籤的性能在兩個頻段都下降,如下面兩個圖表中 (上圖是UHF性能,下圖是HF性能),白色曲線是正常標籤,紅色曲線是性能較差的標籤。



此外,我們也發現在某一頻段表現良好的標籤,另一個頻段沒有功能或是其性能明顯低於中間值。在下面圖中(上圖是UHF,下圖是HF )顯示四個標籤的性能,白色曲線是一個正常標籤,其UHF和HF頻段性能都屬正常。藍色曲線標籤,UHF頻段性能較差但HF頻段性能正常。綠色曲線標籤,UHF頻段性能正常但HF頻段性能較差。橙色曲線標籤,UHF頻段性能較差,HF頻段性能略好於典型的標籤。



NFC/RAIN RFID Combo Test Solution

與破壞性新技術一樣,組件和新製造技術需要一些時間才能完全成熟。在上述簡短的測試裡,我們發現任一頻段的性能可以彼此獨立地變化,即使它們是在同一個IC上。因此,雙頻標籤的兩個頻段應在生產中分別進行測試。


Voyantic為您提供在RFID電子標籤生產中所需要的解決方案,我們的設備可以測試您的RAIN RFID標籤,HF / NFC標籤符合ISO 15693、ISO 14443A、ISO 14443B、Felica和ISO 18000 3M3協議及雙頻率標籤。我們很樂意為您提供更多信息,並根據您的具體要求訂制最合適的解決方案!


有興趣進一步了解如何使用Tagsurance UHFTagsurance HF進行雙頻NFC/UHF電子標籤測試嗎?請下載以下Application Note或是連繫本公司亞太區業務負責人彭建賓先生。

下載__Testing Dual Frequency Tags with Tagsurance



Source: Testing Requirements of NFC/RAIN RFID Dual Frequency Labels in Production

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