EM Microelectronics於2015年推出了具有高頻 (HF/NFC)和超高頻(UHF)通信接口的RFID IC。在本文中，我將和各位探討RFID雙頻電子標籤 Dual Frequency Label 品質相關問題以及如何驗證每個生產的標籤符合其規格？
是否測試任一頻段的性能就足以保證雙頻標籤的性能？
先讓我們聊一下雙頻標籤結構以便了解影響標籤性能的因素，雙頻 IC有兩組接口介面，這允許通過例如使用智慧手機的HF / NFC功能或通過例如零售店內庫存系統的UHF讀寫器方便讀取雙頻 IC內資料，因此雙頻 IC需接上兩個單獨的天線，一個用於HF近場耦合，另一個用於UHF遠場通信，這兩個天線分別連接到單一個雙頻IC上。下面我們可以看到來自Lab ID RFID雙頻標籤天線的設計例子：
從上圖可知，在製程上雙頻IC和兩個天線是同時被連接在一起，如果僅測試一個頻段的性能，是否可保證該雙頻標籤的性能呢? 經進一步分析後，這答案是: 雙頻標籤上NFC和UHF射頻性能是必需單獨測試的。
我們使用Tagsurance UHF和Tagsurance HF進行了一些測試，以便從一捲雙頻標籤樣品中挑出不太靈敏感(性能較差)的標籤。測試雙頻標籤的設置是由兩個獨立的Snoop Pro耦合元件組成，一個用於HF測試，一個用於UHF測試。
我們可以使用同一個使用者界面來控制兩台測試設備Tagsurance UHF和Tagsurance HF，並收集測試結果和每個雙頻標籤的讀取數據。基於這些訊息，我們能夠識別出在UHF頻段或HF頻段中性能較差的標籤。在許多不良的樣品中，同一標籤的性能在兩個頻段都下降，如下面兩個圖表中 (上圖是UHF性能，下圖是HF性能)，白色曲線是正常標籤，紅色曲線是性能較差的標籤。
此外，我們也發現在某一頻段表現良好的標籤，另一個頻段沒有功能或是其性能明顯低於中間值。在下面圖中(上圖是UHF，下圖是HF )顯示四個標籤的性能，白色曲線是一個正常標籤，其UHF和HF頻段性能都屬正常。藍色曲線標籤，UHF頻段性能較差但HF頻段性能正常。綠色曲線標籤，UHF頻段性能正常但HF頻段性能較差。橙色曲線標籤，UHF頻段性能較差，HF頻段性能略好於典型的標籤。
NFC/RAIN RFID Combo Test Solution
與破壞性新技術一樣，組件和新製造技術需要一些時間才能完全成熟。在上述簡短的測試裡，我們發現任一頻段的性能可以彼此獨立地變化，即使它們是在同一個IC上。因此，雙頻標籤的兩個頻段應在生產中分別進行測試。
Voyantic為您提供在RFID電子標籤生產中所需要的解決方案，我們的設備可以測試您的RAIN RFID標籤，HF / NFC標籤符合ISO 15693、ISO 14443A、ISO 14443B、Felica和ISO 18000 3M3協議及雙頻率標籤。我們很樂意為您提供更多信息，並根據您的具體要求訂制最合適的解決方案！
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