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作家相片METAG

本公司彭建賓Smoos先生受邀於BW Bielomatik_RFID前瞻技術研討會發表"In-line RFID Quality Testing"演講


BW Bielomatik於2018年4月份正式推出RFID業界最高速晶片綁定設備_TagLiner,並將Voyantic的標籤性能一致性檢測儀_Tagsurance整合到TagLiner設備上,進行在線RFID Inlay品質檢測,以確保生產的Inlay 100%符合性能要求。


BW Bielomatik訂於2018年深圳國際物聯網博覽會期間,舉辦RFID前瞻技術研討會,並邀請產業界人士進行演講,相關活動訊息如下:


會議時間: 2018年8月2日,9:30am - 5:00pm

會議地點: 深圳大中華喜來登酒店

會議議程:

演講嘉賓

如您想參與於本活動或是對在線RFID標籤性能檢測有興趣,歡迎連繫本公司Smoos先生:



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