RFID 電子標籤製造廠可選用批量檢測套件 Batch Tester 搭配量測主機 Tagformance Lite Measurement Unit 用於量產過程中或出貨前產品品質測試，並記錄每單一 UHF Hard Tag 測試結果作為日後品質分析或是製程改善參考。系統整合商或是終端客戶可使用本套件進行電子標籤進貨品質檢驗， 除此之外，批量檢測套件也可協助研發單位用於電子標籤天線設計 Antenna Design 和 驗證 Verification 等用途。以下是本套件主要功能:

電子標籤靈敏度和讀距測試 Tag Sensitivity & Read Range Tests:                                                  

       

說明:
■ 驗證電子標籤之最佳工作頻率是否落在特定頻率範圍內。
■ 測試在特定頻率範圍內電子標籤之讀距 (功率: 2W ERP)。
■ 測試電子標籤貼附於不同物體(材質)上時對工作頻率和讀距之影響。
■ 測試所需時間約 0.5 ~ 2.0秒/per Tag。
        

電子標籤品質檢測和分級 Tag Quality Checking & Grading:  

說明:
■ 使用者可自行設定品質檢驗標準並予以分級 (最多可設定 4 個品質等級)。
■ 每一品質等級，使用者最少需設定一個以上檢測點 (檢測點數量和檢測所需時間成正比關係)。
■ 每一檢測點需依頻率(X軸)和讀距(Y軸)之關係設定。
■ 上圖共有3個品質檢驗等級 (Military/Ok/Trash)，每一品質等級各設3個檢測點 (綠點/Military，紅點/Ok，籃點/Trash)，上圖檢測結果判定待測Tag為Ok等級。

電子標籤晶片序號讀取和 EPC 錄碼 TID Reading & EPC Programming:

說明:
■ 批量檢測系統可讀取每一待測 Tag 之 TID 和 EPC 碼。
■ 所有已測 Tag 之量測結果系統將予以記錄，內容包含: 量測時間/TID/EPC/品質等級/讀距 (請參閱下表)。
■ 使用者可自行設定是否對待測 Tag 進行 EPC 錄碼，下表範例之 EPC 錄碼是以 1 為級數往上遞增。