選用標籤設計套件(Tag Designer Suite)搭配Tagformance Lite 量測主機，將提供客戶一個開箱即可使用的UHF RFID 測試&驗證系統。本套件主要使用對象是UHF Tag製造商、RFID Testing Center及學校研究單位。Tag開發工程師可運用此套件，在設計過程中對Tag原型樣品重複進行驗測(Verification)。此套件軟體擁有獨特的程式運算法則，遵守EPC Class1 Gen2標準，可量測電子標籤的靈敏度(Sensitivity or Threshold)與標籤信號回覆強度(Backscattered Signal Strength)等特性。此外，若搭配我們所提供量測UHF Tag專用電波暗箱(RFID Measurement Cabinet)，則電子標籤二維幅射場型(Tag Radiation Pattern)也可輕易量出。擁有本RFID測試系統，您將可在短短幾分鐘內分析每個標籤的特性。

系統校正 Calibration to Tag:

              
              此項擁有專利保護的校正方式，可將量測系統中可能影響量測準確性的潛在因素盡可能排除。
              譬如: 量測用信號傳輸線(Cables)、天線(Antennas)、循環器(Circulator)甚至量測環境中
           Multipath的干擾。

靈敏度量測 Threshold or Sensitivity Measurement:

              
               靈敏度量測是在系統上先設定掃描頻率(Sweep Frequency)範圍後啟動量測，系統會在每一
           固定頻率點量測出Tag的最小起動功率(Minimum Turn-on Power or Minimum Required Power
           to activate Tag) ，經由此一測試，將可看出UHF Tag靈敏度和頻率間的特性曲線關係。Tag
           Antenna設計工程師可利用此一實際量測結果和預估值或模擬軟體數值做比對(譬如: Ansoft
           HFSS) ，進而能快速得知Tag的效能結果、或決定是否需採取設計修正措施。量測結果表式
           單位(Y軸)有: 發射功率(Transmitted Power)、Tag信號回覆強度(Backscattered Power)、
           雷達截面積差值(deltaRCS)、Tag正向起動功率(Power on Tag Forward)和Tag理論讀距
           (Theoretical Read Range)等。   

信號回覆量測 Backscatter Measurement: 

              
           在一固定工作頻率下進行功率掃描，量測UHF Tag被起動後信號回覆強度(Backscattered
           Signal Strength)以及發射功率(Transmitted Power)和接收功率(Backscattered Power)等關係。
           圖中，量測曲線的起始點就是Tag啟動功率臨界點(Threshold)，一個Tag的信號回覆強度如越
           接近Tag啟動功率臨界點，將有利於讀取器信號讀取。此外，使用本量測功能也可以比較不同
           EPC Class1 Gen2 ICs的特性和驗測天線阻抗(Antenna Impedance)和RFID IC阻抗是否匹配。

2D場型量測 Orientation or Radiation Pattern Measurement: 

          
          本功能可量測Tag或Tag貼附在物品上的幅射場型(Radiation Pattern)，量測結果可用傳送功率
          (Transmitted Power)、回覆功率(Backscattered Power)、電場強度(Electric Field Strength)
          正向標籤啟動功率(Power on Tag Forward)、讀距(Theoretical Read Range)、正規化幅射場型
          (Normalized Radiation Pattern)等表示。如搭配本公司UHF Tag量測專用電波暗箱(RFID
          Measurement Cabinet)或電波暗室(Anechoic Chamber)將可進行全自動2D幅射場型的量測。