選用應用開發套件(Application Development Suite)搭配Tagformance Lite 量測主機，將可協助客戶驗測EPC Class 1 Gen 2 標籤性能 (Tag Performance)、 標籤群聚效應(Tag Population)、閘門應用(Portal Application)以及現場環境干擾(Interference)量測。群聚分析可精準的量測在一標籤群聚中，那些標籤有問題或是相對不穩定。在閘門應用時，每秒超過400次的靈敏度(Sensitivity)量測，將可即時(Real Time)追蹤單一標籤在閘門讀取區內的反應。干擾量測功能則可輕易偵測出鄰近讀取器的干擾程度與頻段分配 (Channel Allocation) 狀況，讓您不費吹灰之力達成現場環境評估。 

標籤反應測試 Tag Response Test in Time Trace View:
              
               標籤反應測試目的是在確認標籤在實際應用時，是否對讀取器所發射的頻率與功率有所回應，
           目前系統提供三種量測模式 (Constant Power, Follow Threshold and Fast Mode)，使用者可依
           需求選擇適當模式進行測試。量測結果(Y軸)可以用傳送功率(Transmitted Power)、回覆功率
           (Backscattered Power)及信號回覆相位(Backscattered Signal Phase)等方式顯示。
           *X軸是取樣數(Sample Number)

標籤反應測試 Tag Response Test in Indicators View:
                
                在本顯示模式下(Indicators View)，大型的Voyantic Logo是一個指示器，當系統接收到標籤所
                回覆的信號時，它就會發亮，而且會送出嗶聲。右手邊的三個指示器，分別做為傳送功率、回覆功率
                及信號回覆相位等資料顯示。

標籤群聚分析 Tag Population Analysis:
             
              群聚分析主要功能是在量測每單一標籤在眾多標籤(Multiple Tags)環境下和實際應用中的性能
              表現，每一標籤量測結果將以起動功率(Turn-on Power)和回覆功率(Backscattered Power)之
           關係來呈現。使用者可分析標籤貼附間距是否對各個標籤性能有影響，或是研究堆疊標籤是
              否會遮蔽(Shadow)讀取器發射的能量，因而影響整體系統讀取的穩定性。此一量測功能可協
           助系統商挑選適當標籤，或是找尋標籤正確貼附方式(Placement)。

環境干擾量測 Interference Measurement:
              
              此功能可對860-960 MHz頻率範圍進行掃描，使用者可得知在此頻段內所有幅射頻率相關訊
          息，例如，在現場評估(Site Survey)、佈署(Deployment)與除錯(Troubleshooting)階段，使用
          者可攜帶量測主機至應用現場進行偵測，了解鄰近UHF RFID 系統運作情形及頻道被使用的狀
          況，進而選出尚未被佔用的頻段使用。