感謝 SAG 韋僑科技採用本公司 UHF RFID Tag 專用電波暗箱 2012/1/17
感謝 UBIQUE.TAG上海優比科採用本公司檢測設備 2011/12/27
感謝 台灣積層採用本公司量測設備 2011/08/12
感謝 NKMU 國立高雄海洋科技大學採用本公司產品 2011/05/02
Tagformance lite 先進性之說明 2011/04/12
感謝 TATWAH 達華採用本公司量測設備 2011/03/22
Arkansas RFID 研究中心採用本公司設備 2011/01/17
新書發表 - RFID 標籤天線設計與量測 2011/01/10
感謝 FAVITE 晶彩科技採用本公司產品 2010/10/29
METAG 在 2010 台灣國際 RFID 應用展 2010/10/15
媒體專欄: 超高頻電子標籤量測與測試 2010/10/06
METAG 提供學術界半年免費驗測服務 2010/06/25
長榮大學座談會: 電子標籤量測實務 2010/06/23
感謝 SAG 韋僑科技採用本公司產品 2010/06/10
高雄海洋科技大學研習會: RFID 天線測試 2010/04/28
彰化師範大學研討會: RFID 系統實務 2010/03/24
時間: 2011年4月12~14日 攤位號碼: 237 (Voyantic)
時間: 2010年10月11~14日 攤位號碼: M0307
時間: 2010年4月21~23日 攤位號碼:
智慧辨識服務資訊網 EPCglobal TW 中華物聯網聯盟
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Tagformance lite 量測系統提供 UHF RFID 使用者多功能 EPC C1G2 超高頻電子標籤測試解決方案 (UHF Tag Testing Solutions),輕巧、精簡、開箱即可操作 (out-of-the-box) 的硬體設計,使用者可依需求機動的在任何地點架設本系統進行電子標籤性能測試 (Performance Test)。
標籤製造商 (UHF Tag or Label Manufacturer) 或學術研究單位 (Research Organizations) 可使用本系統進行天線設計 (UHF Tag Antenna Design)、設計驗證 (Design Verification)、量產測試 (Mass-Production Test),晶片設計廠可使用本系統開發 RFID IC,系統整合商 (System Integrator) 使用本系統可協助系統架設與疑難排解 (System Installation & Troubleshooting)、電子標籤選用和貼附方式 (Tag Selection & Placement),EPC 驗證中心可使用本系統進行量測等服務 (Measurement Services)。目前已採用本量測系統的公司(單位)包含上海優比科UBIQUE.TAG、台灣積層、國立高雄海洋科技大學NKMU、晶彩科技FAVITE、韋僑科技SAG、UPM、Omni-ID、Impinj、Arkansas University 等國內外電子標籤封裝廠和學術研究單位。
■ 限制超高頻電子標籤讀取距離之因素(二): 讀取器輸出功率 & 天線增益
■ 測試隔熱紙對 ETC 被動式超高頻電子標籤 ISO 18000-6C Tag 性能之影響
■ 不同被貼附物品 (材質) 對 UHF 和 LF 電子標籤性能的影響■ 限制超高頻電子標籤讀取距離之因素(一): 順向連結 & 逆向連結■ 電子標籤讀取和寫入靈敏度差異
靈敏度量測 反向散射量測 2D 場型量測
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